CDM模式靜電測試系統(tǒng) CDM-I6K

過去大家對(duì)人體模型(HBM)和機(jī)器模型(MM)相當(dāng)重視，而忽視了帶電器件模型(CDM)對(duì)器件造成的損壞。近年的研究證明，在自動(dòng)化程度越來越高，器件本身帶電所造成的損壞遠(yuǎn)多于HBM和MM。IC等器件本身由于接觸分離及摩擦如從管內(nèi)倒出帶電，在接觸或處理器件如由機(jī)器手或人取出時(shí)會(huì)時(shí)器件會(huì)發(fā)生放電，在流水線上常見的ESD就是典型的CDM靜電放電。CDM與HBM和MM無論在試驗(yàn)原理方法和程序上都有很大的不同，HBM和MM都是由于IC外部的靜電放電造成IC等器件損壞，而CDM是器件對(duì)其它物體放電所造成的損壞，從模型的基本理論、測試原理，試驗(yàn)方法，測試設(shè)備都完全不同于HBM和MM。
CDM-I6K靜電試驗(yàn)測試系統(tǒng)是按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的專門測試CDM的模擬器，具有試驗(yàn)電壓寬、精度高、分辨率高、穩(wěn)定性好(時(shí)漂小于0.1%)、價(jià)格低等優(yōu)點(diǎn)。

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產(chǎn)品詳情

應(yīng)用領(lǐng)域

芯片、IC電路、元器件等……

產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)

ESD STM5.3.1—199

技術(shù)特點(diǎn)

本系統(tǒng)用于CDM靜電測試試驗(yàn)。主要由直流高壓源、測試主機(jī)、靜電測試探針（含衰減器）三部分構(gòu)成，可實(shí)現(xiàn)帶電器件模型（CDM）靜電感應(yīng)帶電、靜電放電及放電信號(hào)采集測試功能。

技術(shù)指標(biāo)

輸出電壓	0.01～6kV ±5％
電壓極性	正、負(fù)或者正負(fù)交替。
放電間隔	20～999s
放電次數(shù)	1～999
使用環(huán)境	溫度：10℃～35℃ 相對(duì)濕度：30％～60％
電源	單相AC85~265V，50／60Hz
外形尺寸（mm）	主機(jī)350×260×160（D×W×H）
重量	約7.5kg

CDM模式靜電測試系統(tǒng) CDM-I6K

過去大家對(duì)人體模型(HBM)和機(jī)器模型(MM)相當(dāng)重視，而忽視了帶電器件模型(CDM)對(duì)器件造成的損壞。近年的研究證明，在自動(dòng)化程度越來越高，器件本身帶電所造成的損壞遠(yuǎn)多于HBM和MM。IC等器件本身由于接觸分離及摩擦如從管內(nèi)倒出帶電，在接觸或處理器件如由機(jī)器手或人取出時(shí)會(huì)時(shí)器件會(huì)發(fā)生放電，在流水線上常見的ESD就是典型的CDM靜電放電。CDM與HBM和MM無論在試驗(yàn)原理方法和程序上都有很大的不同，HBM和MM都是由于IC外部的靜電放電造成IC等器件損壞，而CDM是器件對(duì)其它物體放電所造成的損壞，從模型的基本理論、測試原理，試驗(yàn)方法，測試設(shè)備都完全不同于HBM和MM。
CDM-I6K靜電試驗(yàn)測試系統(tǒng)是按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的專門測試CDM的模擬器，具有試驗(yàn)電壓寬、精度高、分辨率高、穩(wěn)定性好(時(shí)漂小于0.1%)、價(jià)格低等優(yōu)點(diǎn)。

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靜電放電發(fā)生器SKS-0230K

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雷擊浪涌發(fā)生器 SKS-0520T（三相/20kV）

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本系統(tǒng)用于CDM靜電測試試驗(yàn)。主要由直流高壓源、測試主機(jī)、靜電測試探針（含衰減器）三部分構(gòu)成，可實(shí)現(xiàn)帶電器件模型（CDM）靜電感應(yīng)帶電、靜電放電及放電信號(hào)采集測試功能。

技術(shù)指標(biāo)

輸出電壓	0.01～6kV ±5％
電壓極性	正、負(fù)或者正負(fù)交替。
放電間隔	20～999s
放電次數(shù)	1～999
使用環(huán)境	溫度：10℃～35℃ 相對(duì)濕度：30％～60％
電源	單相AC85~265V，50／60Hz
外形尺寸（mm）	主機(jī)350×260×160（D×W×H）
重量	約7.5kg

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